LK Metrology, azienda britannica specializzata in metrologia dimensionale, ha lanciato lo scanner laser blu L100NX, una nuova testa ottica per macchine di misura a coordinate (CMM) pensata per applicazioni ad alta precisione nei settori aerospaziale, automobilistico e industriale. Il nuovo sensore nasce come evoluzione del precedente L100 a laser rosso e combina una sorgente blu da 450 nm con elettronica aggiornata e funzioni di usabilità avanzate, con l’obiettivo di migliorare qualità del dato, produttività e semplicità di utilizzo nelle ispezioni 3D.
Un laser blu da 450 nm per dati di misura più puliti
Il cuore del L100NX è un laser blu da 450 nm, scelto per ridurre il rumore nei dati di scansione rispetto alle tradizionali sorgenti rosse. Il passaggio al blu permette di diminuire sensibilmente il rumore, migliorando la leggibilità delle nuvole di punti e la ripetibilità delle misure, soprattutto su superfici scure, lucide o testurizzate. Il minor “speckle noise” tipico di questa lunghezza d’onda contribuisce a ottenere profili più stabili e consente di lavorare con tolleranze strette anche su componenti complessi.
Velocità di scansione e campo di misura per componenti di grandi dimensioni
Lo scanner offre una larghezza di striscia di 110 mm abbinata a una velocità fino a 530.000 punti al secondo, valori che lo posizionano tra le soluzioni ad alta produttività per l’ispezione non a contatto su CMM. Questa combinazione permette di ridurre i tempi ciclo su pezzi di grandi dimensioni – come strutture aerospaziali, componenti di carrozzeria o fusioni complesse – mantenendo un’accuratezza adatta a controlli critici. La disponibilità di una striscia relativamente ampia consente inoltre di ridurre il numero di traiettorie necessarie per coprire completamente la superficie, con un impatto diretto sulla programmazione e sui tempi macchina.
ESP di quarta generazione per superfici riflettenti e multi-materiale
Per affrontare componenti realizzati con materiali diversi o con finiture difficili, il L100NX integra la tecnologia ESP (Enhanced Sensor Performance) di quarta generazione. Il sistema regola automaticamente la potenza del laser lungo l’intera linea in modo da ottimizzare l’acquisizione su zone con riflettività variabile. Questo approccio consente spesso di evitare l’uso di spray opacizzanti o trattamenti preliminari, riducendo il lavoro manuale dell’operatore e i tempi di preparazione del pezzo, pur mantenendo un dataset uniforme per l’analisi metrologica.
Ergonomia su CMM: adattatore rotante e proiettore di campo visivo
Oltre agli aspetti puramente ottici, LK Metrology ha lavorato sull’ergonomia del sensore in ambiente CMM. Il L100NX integra un adattatore rotante che facilita il posizionamento della testa e permette di orientare la linea laser in modo ottimale rispetto alla geometria del componente, riducendo i cambi di configurazione e semplificando i programmi di misura. È presente anche un proiettore di campo visivo che disegna direttamente sul pezzo l’area coperta dalla scansione: questa funzione aiuta l’operatore a capire immediatamente dove il sensore sta acquisendo dati, agevola il debugging dei percorsi e riduce il rischio di zone non coperte. Lo scanner viene fornito in un kit completo con protezioni, accessori e documentazione per l’installazione su diverse piattaforme CMM.
Dal L100 al L100NX: continuità con la generazione precedente
Il L100NX nasce come evoluzione diretta del L100, scanner a laser rosso sviluppato quando il marchio LK operava nell’orbita di un grande gruppo della metrologia industriale. Il L100 era già pensato per offrire un compromesso bilanciato tra velocità, accuratezza e facilità d’uso, con applicazioni consolidate nell’ispezione di superfici aeronautiche e di grandi strutture, dove ha permesso di ridurre in modo significativo il tempo di ispezione rispetto alle sole sonde a contatto. Il nuovo modello eredita questa impostazione e sostituisce la sorgente rossa con il laser blu, aggiungendo una gestione più sofisticata dei parametri del sensore e migliorando l’accuratezza delle misure su superfici multi-materiale.
La storia di LK Metrology nel settore delle CMM
Fondata nel 1963 da Norman Key e Jim Lowther, LK Metrology è stata tra i pionieri delle macchine di misura a coordinate a ponte e tra i primi produttori a integrare computer e controlli elettronici nei sistemi di ispezione. L’azienda ha introdotto nel tempo soluzioni come mandrini in fibra di carbonio e azionamenti controllati da microprocessore, contribuendo a definire standard di riferimento per la metrologia 3D. Dopo un periodo all’interno di un grande gruppo multinazionale, LK è tornata un marchio indipendente con sviluppo e produzione nel Regno Unito e una presenza commerciale internazionale. Il lancio del L100NX si inserisce in questa strategia di rilancio, con particolare attenzione alla combinazione tra sensori ottici avanzati e software di misura evoluti.
Il L100NX nel contesto della metrologia ottica e dello scan-to-CAD
Il debutto del L100NX avviene in un momento in cui la metrologia ottica sta evolvendo rapidamente, spinta dalla richiesta di sensori più veloci, portatili e integrati nei flussi scan-to-CAD. Soluzioni portatili per la scansione 3D e piattaforme software dedicate alla gestione del dato misurato mostrano come acquisizione, analisi e reportistica siano sempre più pensate come un ecosistema unico. Allo stesso tempo, strumenti dedicati all’ispezione di aree difficili da raggiungere o al monitoraggio dei processi di produzione additiva in tempo reale evidenziano il ruolo crescente della metrologia 3D all’interno della fabbrica. Il L100NX si colloca in questo scenario come soluzione specifica per CMM, pensata per chi deve coniugare precisione da laboratorio e produttività da reparto.
Settori applicativi: aerospazio, automotive e manifattura generale
Gli ambiti applicativi del L100NX riprendono quelli tradizionali di LK Metrology: aerospazio, con il controllo di superfici alari, longheroni e parti strutturali; automotive, per scocche, stampi, parti di powertrain e componenti pressofusi; manifattura generale, dove è richiesto il controllo dimensionale di pezzi complessi con tolleranze strette. Nei casi applicativi pubblicati dall’azienda, l’uso di scanner della stessa famiglia ha già dimostrato la possibilità di riutilizzare programmi di misura esistenti per sonde a contatto, sostituendo solo alcune sequenze con traiettorie di scansione e liberando tempo macchina per ulteriori controlli. L’introduzione del L100NX, con rumore ridotto e migliore risposta su superfici difficili, estende questo approccio a un ventaglio ancora più ampio di componenti e materiali.
